2023年一月31日 - 二月02日 | 贸易展, 美国

与 MVTec 美国相遇于光电及激光展

在2023年1月31日至2月2日的美国光电及激光展上，通过现场演示，体验 MVTec MERLIC 的异常值检测功能。

在现场演示的帮助下，您将了解 MERLIC 的异常值检测。基于深度学习的异常值检测显著提高了自动化的表面检测，例如，检测和分割缺陷。只需要少量的高质量图像进行训练，因为通过不同外观的缺陷可以被检测出来，并且不需要预先的知识或标记。了解更多关于我们的深度学习技术。

欢迎您莅临5140号展位与 MVTec 美国会面。