MVTec 的机器视觉软件如何帮助你实现您的智能自动化和机器人项目？ 我们很高兴可以在 2022 年慕尼黑自动化展的展位上与许多参会者讨论他们的项目。 通过两个现场的演示，我们展示了深度学习和 3D 视觉背景下的新功能。
MVTec 在 automatica (慕尼黑自动化展) 上亮相！
用于质量控制的全局上下文类比检测
参观者能够通过现场演示了解如何使用全局上下文异常值检测深度学习功能来检查印刷电路板 (PCB) 上的电子元件，以检测划痕等局部缺陷和逻辑缺陷。 这是第一次允许在图像中检测到逻辑异常。 例如，该技术可用作完整性检查和缺陷检测的质量控制的一部分。
使用 3D 视觉对未知物体进行抓取
第二场现场演示向参观者展示了基于机器视觉的机器人系统，如何使用 MVTec HALCON 抓取、移动和放下形状未知的物体。 基于深度学习的 bin-picking 应用程序首次结合了HALCON 3D 视觉和深度学习，实现了稳健地检测任意物体上的抓取表面。 这使得典型应用程序（例如物流行业的应用程序）的实施速度更快，因此成本效益更高。
