MVTec hat heute die neueste HALCON-Version veröffentlicht und zum Download bereit gestellt. HALCON 19.11 bringt unter anderem diese Vorteile für Ihre Bildverarbeitungsanwendungen:
Mit HALCONs Anomalieerkennung lassen sich Deep-Learning-basierte Inspektionsaufgaben noch effizienter und einfacher realisieren: Defekte können mit weitaus geringerem Aufwand zielsicher lokalisiert werden, während das Labeln von Bildern mit defektbehafteten Objekten nicht mehr notwendig ist.
Vorteile entstehen zudem für die Logistik- und Pharmaindustrie: Dank des neuen generischen Box Finders lassen sich Schachteln und Kisten beliebiger Größen innerhalb von 3D-Punktwolken erkennen und lokalisieren. Abmessungen werden verlässlich bestimmt, ohne dass für jede Boxgröße ein Modell trainiert werden muss.
Eine weitere Neuerung: Das Lesen von ECC-200-Datacodes wurde für Multicore-Systeme signifikant beschleunigt. Die größte Verbesserung wurde bei Codes erzielt, die besonders schwer zu erkennen und zu lesen sind. Die Lesevorgänge sind bis zu dreimal schneller, was auch die Nutzbarkeit auf Embedded-Systemen steigert.
Mit HALCON 19.11 lässt sich zudem eine noch breitere Palette an Deep-Learning-Netzen nutzen. Zum Beispiel ist es jetzt möglich, Deep-Learning-Modelle im ONNX (Open Neural Network Exchange)-Format zu importieren.
Zudem haben die MVTec-Experten HALCON um ein neues Modell für Line-Scan-Kameras mit telezentrischen Objektiven erweitert.
Lesen Sie hier mehr über die neuen Features von HALCON 19.11. Die technischen Details finden Sie in der Dokumentation. Registrierte Benutzer können die neue Version hier herunterladen. Falls Sie noch nicht für unseren Download-Bereich registriert sind, können Sie das auf der Registrierungsseite tun.