| On-Demand Webinar, HALCON

Wie man den Ertrag bei der Waferproduktion maximiert

Die Inspektion von Wafern ist aufgrund ihrer reflektierenden Oberflächen, mikroskopisch kleinen Defekte und der erforderlichen hohen Präzision eine große Herausforderung. Hier kommt die industrielle Bildverarbeitung ins Spiel: Sie ermöglicht automatisierte, robuste und hocheffiziente optische Inspektionsprozesse.

Sehen Sie sich das Webinar an und erfahren Sie, wie fortschrittliche Bildverarbeitungstechnologien die Waferinspektion verändern und die Qualität sowie den Durchsatz in der Halbleiterfertigung steigern. Fragen direkt aus der Branche, keine Folien – nur Lösungen.

Was Sie lernen werden:

  • Wie Machine Vision zur Erkennung von Fehlern auf einem Wafer eingesetzt werden kann, mit einer Live-Demonstration
  • Welche Technologien in MVTec HALCON zur Maximierung der Ausbeute eingesetzt werden können
  • Wie wir Sie beim Einstieg in die automatisierte optische Inspektion unterstützen können

Wer sollte sich das Webinar ansehen:

  • Ingenieure und technische Leiter, die Automatisierungslösungen in der Halbleiterindustrie und darüber hinaus suchen
  • Projektmanager und Entscheidungsträger, die ihr Wissen vertiefen oder neue Anwendungen erkunden möchten

Bitte füllen Sie das folgende Formular aus, um das Webinar anzusehen: