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Smart, schnell und KI-gestützt: MVTec auf der Hannover Messe 2025!

Besuchen Sie uns auf der Hannover Messe 2025 und erleben Sie modernste Bildverarbeitungstechnologien live!

Als führender Anbieter von Machine-Vision-Software präsentiert MVTec innovative Lösungen für industrielle Anwendungen. Lassen Sie sich inspirieren, wie Künstliche Intelligenz (KI) und Deep Learning die Automatisierung und Qualitätssicherung revolutionieren.

  • Datum: 31.März –04. April 2025
  • Standort: Hannover Messe, Halle 9, Stand G24

MVTec ist Teil der offiziellen KI-Tour 

MVTec wird als Aussteller an der offiziellen KI-Tour der Hannover Messe 2025 teilnehmen! Im Rahmen dieser geführten Touren zeigen wir unsere neuesten KI-basierten Technologien in Aktion. Nutzen Sie die Gelegenheit, an einer der Touren teilzunehmen und exklusive Einblicke in unsere spannenden Demos zu erhalten. Informationen zur Anmeldung folgen. 

Unsere Live-Demonstrationen

AI Anomaly Detection

Diese Demo zeigt die optische End-of-Line-Inspektion des positiven Terminals einer zylindrischen Batteriezelle mit der Deep-Learning-Technologie Global Context Anomaly Detection von MVTec. Die Lösung ist ideal für robuste Qualitätsinspektionen, Defekt-Erkennung und Vollständigkeitsanalysen. Dank der Anomaly-Detection-Funktionalität in MVTec MERLIC werden Kratzer, Verunreinigungen und Verformungen an Batteriezellen zuverlässig erkannt – plattformunabhängig und flexibel einsetzbar. Die Demo zeigt zudem die nahtlose Integration in das Siemens Industrial Edge Ecosystem, was eine skalierbare und effiziente Qualitätsprüfung ermöglicht. 

AOI Wafer Inspection

Mit dieser Demo präsentieren wir hochpräzise Inspektionstechnologie für 12-Zoll-Wafer, die selbst kleinste Anomalien wie Kratzer, Haarrisse und Staubpartikel erkennt. Unsere leistungsfähigen Bildverarbeitungstechniken ermöglichen eine exakte und schnelle Bildausrichtung sowie ein trainiertes Variationsmodell, das verschiedene Defekte auf den Chips identifiziert. Zusätzlich lassen sich mit den HALCON-Toolboxen sowohl regelbasierte als auch Deep-Learning-gestützte Methoden zur Anomalieerkennung implementieren. Von der Front-End- bis zur Back-End-Inspektion bietet HALCON ein breites Spektrum an Technologien, darunter OCR, 3D-Messung undvieles mehr. 

Hier gehts zum kostenlosen Besucherticket

Besuchen Sie unseren Stand und erleben Sie, wie unsere Softwarelösungen die Fertigung von morgen optimieren! Wir freuen uns auf Ihren Besuch.