Einen Schwerpunkt bilden dabei neue Features im Kontext von Deep Learning und 3D Vision. Dazu Dr. Olaf Munkelt, Geschäftsführer von MVTec: „Nach der langen messelosen Zeit freuen wir uns wieder auf den persönlichen Austausch mit unseren Kunden, Partnern und Interessenten. Dabei demonstrieren wir mit einem Vierteljahrhundert Machine-Vision-Erfahrung eindrucksvoll unsere Technologieführerschaft. Mit unseren Kunden als Sparringspartnern und unserem starken Team aus Experten werden wir auch in den kommenden 25 Jahren eine stabile Größe im weltweiten Machine-Vision-Markt sein.“
MVTec nutzt den Messeauftritt auf der automatica, um einige brandneue Technologien vorzustellen. Dazu zählt etwa das Deep-Learning-Feature Global Context Anomaly Detection, das mit dem Release von MVTec HALCON 22.05 eingeführt wird. Damit lassen sich erstmals logische Anomalien wie etwa falsch angeordnete Bauteile in Bildern erkennen. Die Technologie kann beispielsweise im Rahmen der Qualitätskontrolle zur Vollständigkeitsprüfung und Fehlerinspektion genutzt werden. In einer Live-Demonstration zeigen die MVTec-Experten, wie mithilfe dieses neuen Features elektronische Bauteile auf Leiterplatten (PCBs) inspiziert werden. Hierbei werden sowohl lokal begrenzte, strukturelle Fehler wie Kratzer als auch logische Defekte erkannt.
Erstmalige Verbindung von 3D Vision und Deep Learning für Bin Picking
Darüber hinaus präsentiert MVTec auf der Messe eine Deep-Learning-basierte Bin-Picking-Anwendung. Diese verbindet erstmals 3D Vision und Deep Learning mit dem Ziel, Greifflächen auf beliebigen Objekten robust zu erkennen. Im Gegensatz zu typischen Bin-Picking-Anwendungen entfällt hierbei das Einlernen von Objektoberflächen. Daher sind keinerlei Vorkenntnisse über die jeweiligen Objekte erforderlich. So lassen sich typische Anwendungen wie etwa in der Logistikbranche deutlich kosteneffizienter, da in kürzerer Zeit, umsetzen. In einer Live-Demonstration mit einem bildverarbeitungsbasierten Robotik-System demonstriert MVTec, wie sich zukünftig mit MVTec HALCON beliebige Objekte mit unbekannten Formen greifen, bewegen und wieder ablegen lassen.
Zudem zeigt MVTec weitere Demos in Zusammenarbeit mit langjährigen Partnern. So wird am Stand von IDS Imaging Development Systems anschaulich demonstriert, wie sich mit MVTec Software und IDS Kameras alle gängigen Bar- und Datacodes unabhängig von der Ausrichtung lesen lassen – auch wenn die Modulbreite weniger als ein Pixel beträgt oder der Code teilweise verdeckt ist.
Machine-Vision-Community trifft sich zum Get-Together
Der diesjährige Messeauftritt von MVTec bietet überdies ein attraktives Rahmenprogramm: Anlässlich des 25-jährigen Firmenjubiläums lädt das Unternehmen langjährige Wegbegleiter, Bestandskunden, Partner und Interessierte am 22. Juni zu einem Get-Together in der Kunst Location unweit des Münchner Messegeländes ein. Dabei erwartet die Besucher ein unterhaltsames und abwechslungsreiches Programm: Sie erhalten interessante Einblicke in die Geschichte und Zukunft der Bildverarbeitung aus verschiedenen Perspektiven sowie einen kurzweiligen Rückblick auf die Machine-Vision-Geschichte von MVTec. Zudem verzaubert ein magischer Special Guest die Teilnehmer. Abgerundet wird das Event von ausgelassenem Networking in entspannter sommerlicher Atmosphäre bei Essen, Getränken und Musik. Interessierte können sich bis zum 14. Juni kostenfrei unter www.mvtec.com/25jahre registrieren.