MVTEC HALCON

电极片检查机 - Ayaha Engineering

Ayaha Engineering 在锂离子电池电极片的在线涂布检测中使用线扫描摄像机与 HALCON 软件。系统可在持续运行的卷材上检测涂层宽度、缺陷及异物,并利用 SVM 技术对缺陷进行分类。
HALCON
电池生产
汽车行业
电子元件
3D 视觉

目前的网络检测基本上使用的都是高分辨率线扫描相机。为了确保高速处理大图像时的稳定性,还要借助专门的硬件快速处理装置,比如 FPGA(现场可编程逻辑门阵列)。然而,开发 FPGA 应用需要耗费大量的精力和时间,这导致无法及时响应客户请求。因此,利用强大的软件处理功能满足“上市时间”要求逐渐成为网络检测的主导趋势。

Ayaha Engineering 是日本大型网络检测机制造商之一。对于多线扫描相机系统,Ayaha 大多采用 FPGA 方式。而对于一些相机数量较少的系统,则会借助 MVTec 的 HALCON 来及时满足客户要求。比如,该公司会用一种专门的机器来检查电极片,这是一种用于制作锂离子电池的材料,对于实现先进的电动汽车技术至关重要。大多数电极材料生产线都需要连续运行数千米的距离。因此,确保长时间超长距离运行的稳定性至为重要。

Ayaha 的网络检测机仅使用一台线扫描相机来拍摄涂有锂的电极片。之后对图像进行检查以确定相关因素,比如涂层宽度、缺陷或异物等。这方面的机器视觉应用基于 HALCON 软件。HALCON 的支持向量机 (SVM) 技术能够实现缺陷分类。不同的缺陷在大小、角度、强度、形状等很多方面都会存在巨大差异。这种基于 SVM 技术的缺陷分类已成为该公司检测机的一项标准功能。

HALCON 的超快区域处理能力可帮助用户及时完成大批量数据的处理。而缺陷分类等最新的软件功能更是进一步提升了 Ayaha 检测机的实用价值。此外,借助 HALCON 的集成开发环境 HDevelop,Ayaha 还显著缩短了开发时间,因此能够更加灵活地响应客户需求。

本文章由 LinX 友情提供。产品/商标的所有产品名称、商标和图片版权均属于其持有者。版权所有。

发布日期: 九月 05, 2013

更多新闻

MVTec MERLIC 26.03 现已上市
借助 MERLIC 26.03,机器视觉应用的开发与运行将变得更加一致且更具可扩展性。该版本引入了统一的 MVTec 版本命名格式(YY.MM),并提供了更简化的、基于软件包的许可模式,同时支持灵活的附加组件。…
了解更多
MERLIC
新版深度学习工具显著提升了 Deep OCR 的性能
凭借 Deep OCR 对齐功能及其他改进,深度学习工具 26.03 提升了 OCR 应用的速度和效率。新模型、优化后的训练以及对 CUDA 12.8 的支持,在降低内存占用量的同时带来了更高的性能。
了解更多
深度学习工具
MVTec Academy 新课程:马赛克拼接——使用 HALCON 进行图像拼接
本基础培训将向您介绍HALCON中的拼接技术。本课程将向您展示如何将多张图像组合成一张大型拼接图像。因此,借助这项技术,您可以生成物体或场景的大幅图像,而这些内容原本无法完全纳入单个摄像头的视野范围内。…
了解更多
Academy
HALCON
使用 HALCON 进行并行编程
本高级培训将向您介绍使用 HALCON 进行并行编程的概念。通过应用并行编程,您可以优化 HALCON 程序的性能,并充分利用多核或多处理器硬件的优势。
了解更多
Academy
HALCON
MVTec 软件管理器 1.6.5:中国地区下载速度全面提升
为提升中国地区用户的软件下载性能,MVTec 现已提供专用的代理缓存服务器。通过 MVTec Software Manager 进行的软件下载将变得更加快速和稳定。
了解更多
MVTec
HDevelopEVO 预览版:最新更新现已推出
更快、更直观且更具交互性的编程体验:所有 HALCON 用户现在均可下载全新的 IDE 预览版。
了解更多
HALCON
MVTec License Server 25.12 新版本发布
借助 MVTec License Server Cloud-Ready 25.12,HALCON 许可证可以借用,从而在网络中断或离线情况下仍可运行。
了解更多
MVTec
MVTec 深度学习工具 25.12 现已发布
2025 年 12 月 04 日,我们发布了 MVTec 深度学习工具的新版本 25.12,从而进一步发展了我们基于人工智能的机器视觉产品组合。
了解更多
深度学习工具
MVTec Academy 全新课程:《图像采集:适用于现代相机技术的接口》
本培训课程将向你介绍 HALCON 中新增的图像采集算子。通过实践练习,你将学习必要的技术术语和概念,并进一步加深理解。
了解更多
Academy
HALCON
HALCON 25.11 现已上市
新版本的 MVTec HALCON 现已可供下载。此次版本再次带来了多项优化与全新功能,其中包括全新的 持续学习(Continual Learning)– 分类 技术,使分类模型的训练与更新过程更加快速、灵活。
了解更多
HALCON
MVTec 线上学院新课程 "通过语言接口进行代码集成"
本高级课程讲解如何在使用 C、C++、C#、Visual Basic .NET 和 Python 编写的软件项目中集成并使用 HALCON 库。
了解更多
Academy
HALCON
MVTec Academy 新课程:使用 GigE Vision 进行图像采集
本高级课程深入讲解如何在 HALCON 中使用 GigE Vision 相机。
了解更多
Academy
HALCON
MVTec MERLIC 5.8 现已上市
MVTec MERLIC 5.8 让视觉应用的开发和运行比以往更加简单,具有改进的错误处理、集中式配方管理以及更快速、更灵活的部署。
了解更多
MERLIC
MVTec Academy 新课程:手眼标定
在本高级课程中,您将学习如何使用 HALCON 进行手眼标定。
了解更多
Academy
HALCON
MVTec License Server 25.08 新版本发布
本次更新使 License Server 更容易作为 Windows 系统服务运行,并提供了更便捷的文档访问。
了解更多
MVTec
新MVTec学院课程“检查条码和2D数据码的打印质量”
在本高级培训课程中,您将学习如何使用HALCON和MERLIC对条码和数据码进行打印质量检测。
了解更多
Academy
HALCON
MERLIC
新MVTec学院课程“缺陷检测”
本基础培训将向您介绍使用MVTec HALCON进行缺陷检测。您将学习不同的方法以及在开发缺陷检测应用程序时需要考虑的因素。随后,您将使用不同方法解决一些具有挑战性的应用案例。
了解更多
Academy
HALCON
MVTec HALCON software box with surfer – new version
HALCON 25.05 现已上市
新版本的 MVTec HALCON 现已可供下载。 HALCON 25.05 引入了形状匹配扩展参数估计的第一次迭代。在此版本中,MVTec 专注于提高 HALCON 的易用性和基于规则的机器视觉。
了解更多
HALCON
MVTec Academy 新课程:“为 MERLIC 开发自定义工具”
本高级培训将向您介绍如何为MERLIC开发自定义工具,以扩展现有的MERLIC工具库。
了解更多
Academy
MERLIC
MVTec 深度学习工具 25.04 现已发布
2025 年 4 月 30 日,我们发布了 MVTec 深度学习工具的新版本 25.04,从而进一步发展了我们基于人工智能的机器视觉产品组合。
了解更多
深度学习工具
MVTec MERLIC 5.7 现已上市
借助新版本 MERLIC 5.7,MVTec 延续了 MERLIC 的既定路线——轻松的流程集成与强大的机器视觉方法相结合。新版本 提高了 MERLIC 运行环境(RTE) 的可用性,并优化了通信接口的操作。
了解更多
MERLIC
全新 MVTec Academy 课程:学习全球上下文异常检测
高级在线课程讲解如何准备数据、训练和应用 MVTec 全球上下文异常检测模型。
了解更多
Academy
HALCON
MERLIC
任务完成:MVTec 圣诞问答活动!
随着我们的圣诞问答活动圆满结束,我们很高兴与大家分享精彩的结果!
了解更多
MVTec
MVTec Software