如何最大化晶圆生产中的良品率

观看本次网络研讨会，了解先进视觉技术如何革新晶圆检测流程，推动半导体制造领域的质量提升与产能优化。直击行业痛点，摒弃枯燥幻灯片——只呈现解决方案。

您将学到

• 如何利用机器视觉检测晶圆缺陷（含现场演示）
• MVTec HALCON 哪些技术可用于最大化良品率
• 我们如何助力您启动自动化光学检测

适合观看人群

• 探索半导体行业及相关领域自动化解决方案的工程师与技术主管
• 希望深化知识或探索新应用场景的项目经理与决策者

请填写下方表格观看网络研讨会。