这就是我们 新闻中心 联系我们
Login
开发者专区

来自我们专家的技巧与窍门

MVTec 专家定期在此页面分享使用 MVTec HALCON 和 MERLIC 解决不同视觉任务的技巧和诀窍。您可以随时提问或提出有趣的主题。

Deep OCR – 技巧和诀窍
您是否已经体验过 Deep OCR 相比传统规则方法带来的性能提升？在本文中，我们将展示实用的技巧和窍门，帮助您进一步优化 Deep OCR 结果。
开发人员专区
采集模式回顾
本文概述了 HALCON 的图像采集模式，解释了连续采集、触发采集和同步采集的工作原理，并澄清了一些常见误解。
开发人员专区
Fitted primitives distance threshold
计量模型 - 拟合质量
“对于大多数应用，标准参数值已足够。” 这句话经常出现在 HALCON Solution Guide 中。但如果结果不符合预期该怎么办？Metrology Model 可实现几何形状的快速测量。通过调整 distance_threshold 和 min_score 参数，即使在复杂应用中也能实现精确拟合。…
开发人员专区
Deep OCR Interface
Deep OCR 识别训练 - 再上新台阶
HALCON 的 Deep OCR 功能强大，可以检测和识别各种工业场景中的文字。然而，如果遇到特殊字体或者是想要读取外文字符，该怎么办？HALCON 22.05 可以对识别模型进行训练，读取您想要读取的特殊字母或字体，同时 Deep OCR 的性能也得到提升，完美适配您的应用。…
开发人员专区
Visualize Object Model 3D
利用两项实用功能改善基于表面的匹配
您是否曾遇到过物体因为极小的损坏（例如物体上的小钻孔）而失去对称性的情况？您基于表面的 3D 匹配是否因此而无法找到正确的方向？
开发人员专区
MVTec Software