Die Deep-Learning-Technologie „Global Context Anomaly Detection“ eröffnet völlig neue Anwendungsbereiche im Bereich Machine Vision. Dabei handelt es sich um eine Weiterentwicklung der Anomalie-Erkennung. Bisher ließen sich ausschließlich lokal begrenzte, strukturelle Anomalien erkennen. Das neue Feature „Global Context Anomaly Detection“ kann nun als bislang einzigartige Technologie den logischen Inhalt des ganzen Bildes „verstehen“. Entwickelt wurde die Deep-Learning-Technologie in der hauseigenen Forschungsabteilung von MVTec.
Als Feature ist die Technologie in den MVTec Softwareprodukten HALCON und MERLIC erhältlich.
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