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MVTec bei dem Siemens AI with Purpose Summit

Wie gelingt der wertschöpfende Einsatz von KI mit Bildverarbeitung für die Industrie? Klaus Schrenker, Business Development Manager, und Ulf Schulmeyer, Produktmanager MERLIC, haben die Vorteile und Herausforderungen von KI in industriellen Bildverarbeitungsanwendungen vorgestellt.

MVTec demonstrierte seine KI-basierte Anomaly Detection mit einer Live-Inspektion der Oberfläche einer zylindrischen Batteriezelle. Zum ersten Mal lief diese App, die auf dem Siemens Industrial Edge Marketplace verfügbar ist, auf einem Siemens Edge-Gerät mit GPU für eine verbesserte Leistung.

Der "AI with Purpose Summit 2024" wird vom Siemens AI Lab unterstützt und fand vom 10. und 11. Juni in München statt.

Erfahren Sie mehr über die MERLIC App "Anomaly Detection for Visual Inspection" auf Siemens Industrial Edge und laden Sie dort die kostenfreie Testversion herunter:

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