| MERLIC

机器视觉:MVTec 出品的 MERLIC 5.2 提供易于使用的全新深度学习功能

慕尼黑,2022 年 9 月 22 日 – 领先的国际工业机器视觉软件制造商 MVTec Software GmbH (www.mvtec.com) 将于 2022 年 10 月 20 日推出其简单易用型机器视觉软件 MERLIC 的最新版本 (5.2)。MERLIC 能够快速开发并部署完整的机器视觉应用,无需编写任何代码。
MERLIC 技术产品经理:Christoph Wagner
MERLIC 技术产品经理:Christoph Wagner

MERLIC 5.2 从逻辑上延续了自 MERLIC 5 以来所采用的方法,也就是为客户提供易于使用的最新深度学习功能。异常值检测和分类(从 MERLIC 5 开始)和 Deep OCR(从 MERLIC 5.1 开始)等成熟可靠的深度学习功能中现在添加了全局上下文异常值检测。2022 年春季,该技术以这种形式于全球率先在 MVTec HALCON 中首次部署,仅仅半年之后就将推广至 MERLIC 用户。与以前的版本一样,用户也能访问 MVTec 的深度学习工具进行数据训练。该工具是为轻松进行数据标记和训练而设计的。事实上,这两种操作都是任何深度学习应用的关键步骤。毕竟,这些标注或训练数据的质量对于应用的性能、精准度和稳定性起着重要作用。深度学习工具易于使用,不需要任何编程知识。

“借助 MERLIC,我们希望确保即使对于要求苛刻的机器视觉应用,也能从单一来源进行完整快速的实施。通过全局上下文异常值检测与深度学习工具的集成,将有更多用户对使用 MERLIC 感兴趣,这一切都不需要编写任何代码,”MVTec 公司 MERLIC 技术产品经理 Christoph Wagner 解释说。

全局上下文异常值检测

作为成熟可靠的异常值检测的扩展,该功能将基于深度学习的缺陷检测推升至全新高度。现在,MERLIC 用户也能通过这种创新技术大获裨益。全局上下文异常值检测是一种非常独特的技术,这是因为,凭借该技术,我们可以“理解”图像的逻辑内容并检测异常中的新变体。例如,对于需要进行完整性检查、质量检查、缺陷检测或印刷检查的任何工业领域,这种功能都是很有用处的。两种实际用例分别是,验证印刷的质量和位置,以及检查半导体生产中的电子元件。

借助全局上下文异常值检测,良好的图像是唯一需要训练的对象。也就是说,不需要进行任何标记。在 MERLIC 5.2 中,可以使用 MVTec 提供的免费深度学习工具 (DLT) 对深度学习应用进行训练。然后,可以将结果从 DLT 导入至 MERLIC,并在其中运行结果,而无需进行任何编程。

简便的参数设置

MERLIC 5.2 中提供的 MVTec EasyParams 使用户能够快速轻松地查找和设置相关相机参数。无论相机制造商是哪家公司,这款简化的配置工具都意味着,可以更快地将应用投入运行。此外,MERLIC 还可自动保存所有 EasyParams。这可增加 MERLIC 支持的兼容相机的数量。

MERLIC 导出图像数据更加便利

现在,MERLIC 5.2 还允许用户将图像数据从 MERLIC 导出至其他接口。此功能对于用户来说非常便利,这是因为,他们现在可以直接通过通信接口将图像用于可视化目的。更有现在也已包括在交付范围内的通信插件,允许用户单独保存图像,例如,用于质量保证目的。

法律声明

版权所有。所有图像和文本材料仅可免费用于新闻报道。图片来源:MVTec Software GmbH。请向我们提供报道副本。除新闻报道外,这些材料禁止用于任何形式的商业用途。版权所有 © MVTec Software GmbH