automatica 2022

Wir freuen uns Sie vom 21. bis 24. Juni 2022 wieder persönlich auf der automatica in München treffen. Entdecken Sie die neuesten Entwicklungen unserer Bildverarbeitungssoftware HALCON und MERLIC sowie dem Deep Learning Tool.

MVTec nutzt den Messeauftritt auf der automatica, um einige brandneue Technologien vorzustellen. Dazu zählt etwa das Deep-Learning-Feature Global Context Anomaly Detection, das mit dem Release von MVTec HALCON 22.05 eingeführt wird. Damit lassen sich erstmals logische Anomalien wie etwa falsch angeordnete Bauteile in Bildern erkennen. Die Technologie kann beispielsweise im Rahmen der Qualitätskontrolle zur Vollständigkeitsprüfung und Fehlerinspektion genutzt werden. In einer Live-Demonstration zeigen die MVTec-Experten, wie mithilfe dieses neuen Features elektronische Bauteile auf Leiterplatten (PCBs) inspiziert werden. Hierbei werden sowohl lokal begrenzte, strukturelle Fehler wie Kratzer als auch logische Defekte erkannt.

Wie maschinelles Lernen, industrielle Bildverarbeitung und Robotik die Branche verändern und die Automatisierung auf die nächste Stufe heben, wird außerdem im Rahmen des munich i CEO Round Table: "Seeing and feeling the world: Unlocking perception" diskutiert. Hier werden Dr. Olaf Munkelt und andere prominente Persönlichkeiten aus der Branche über die Zukunft und die aktuellen Defizite des Sektors diskutieren.

Darüber hinaus präsentiert MVTec auf der Messe eine Deep-Learning-basierte Bin-Picking-Anwendung. Diese verbindet erstmals 3D Vision und Deep Learning mit dem Ziel, Greifflächen auf beliebigen Objekten robust zu erkennen. Im Gegensatz zu typischen Bin-Picking-Anwendungen entfällt hierbei das Einlernen von Objektoberflächen. Daher sind keinerlei Vorkenntnisse über die jeweiligen Objekte erforderlich. So lassen sich typische Anwendungen wie etwa in der Logistikbranche deutlich kosteneffizienter, da in kürzerer Zeit, umsetzen. In einer Live-Demonstration mit einem bildverarbeitungsbasierten Robotik-System demonstriert MVTec, wie sich zukünftig mit MVTec HALCON beliebige Objekte mit unbekannten Formen greifen, bewegen und wieder ablegen lassen. Wenn Sie sich darüber hinaus für die Implementierung und Optimierung von Deep Learning in einer industriellen Umgebung interessieren, empfehlen wir Ihnen Christian Ecksteins Vortrag "Deep Learning in practice: The move toward data-centric Deep Learning"

Zudem zeigt MVTec weitere Demos in Zusammenarbeit mit langjährigen Partnern. So wird am Stand von IDS Imaging Development Systems anschaulich demonstriert, wie sich mit MVTec Software und IDS Kameras alle gängigen Bar- und Datacodes unabhängig von der Ausrichtung lesen lassen – auch wenn die Modulbreite weniger als ein Pixel beträgt oder der Code teilweise verdeckt ist.

Merken Sie sich auch den Termin für unser Networking-Event am 22. Juni vor, bei dem wir den 25. Geburtstag von MVTec mit Ihnen feiern wollen. Die Veranstaltung beginnt am späten Nachmittag und findet in der Nähe der Messe München statt.

Feiern Sie mit