Mit den neuen Features profitieren Anwender der MVTec Software von erheblichen Zeiteinsparungspotentialen und verbesserter Flexibilität.
Erweiterungen der 3D-Technologien von MVTec HALCON mit Deep-Learning-Algorithmen ermöglichen nun die robuste Erkennung von Greifflächen an beliebigen Objekten. Damit lassen sich typische Anwendungen, z.B. in der Logistik, schneller und damit kostengünstiger realisieren. Auf unserem Messestand zeigen wir dieses brandneue Feature anhand eines Machine-Vision-basierten Robotiksystems.
Die neue "Global Context Anomaly Detection" ist eine einzigartige Technologie, die den logischen Inhalt des gesamten Bildes berücksichtigt. Diese Technologie ermöglicht es, völlig neue Varianten von Anomalien wie fehlende, deformierte oder falsch angeordnete Komponenten zu erkennen. Sie eröffnet völlig neue Möglichkeiten: Zum Beispiel die Inspektion von Leiterplatten in der Halbleiterproduktion oder die Prüfung von Aufdrucken. Das Feature ist in HALCON bereits verfügbar und wird mit der nächsten Version auch in MERLIC eingeführt.
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